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Detalles del artículo

Publicación
Título: RELIABILITY STUDY OF THIN-OXIDE ZERO-IONIZATION ZERO-SWING FET 1T-DRAM MEMORY CELL
Título de la revista: IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS
Tipo de aportación: ARTICULO
Número de volumen: 7
Páginas de la publicación: 1084 - 1087
Año de la publicación: 2019
Autores: CARLOS NAVARRO MORAL
CARLOS MÁRQUEZ GONZÁLEZ

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