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Producción científica

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Detalles del artículo

Publicación
Título: PERFORMANCE AND RELIABILITY IN BACK-GATED CVD-GROWN MOS2 DEVICES
Título de la revista: SOLID-STATE ELECTRONICS
Tipo de aportación: ARTICULO
Número de volumen: 186
Páginas de la publicación: 108173 -
Año de la publicación: 2021
Autores: FRANCISCO J GAMIZ PEREZ
CARLOS MÁRQUEZ GONZÁLEZ

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