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Producción científica
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| Publicación | |
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| Título: | PERFORMANCE AND RELIABILITY IN BACK-GATED CVD-GROWN MOS2 DEVICES |
| Título de la revista: | SOLID-STATE ELECTRONICS |
| Tipo de aportación: | ARTICULO |
| Número de volumen: | 186 |
| Páginas de la publicación: | 108173 - |
| Año de la publicación: | 2021 |
| Autores: |
FRANCISCO J GAMIZ PEREZ CARLOS MÁRQUEZ GONZÁLEZ |
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