None
(Ref. TIC-216)
21
noviembre
2024
noviembre 2024
| L | M | X | J | V | S | D |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 1 | 2 | 3 | ||||
| 4 | 5 | 6 | 7 | 8 | 9 | 10 |
| 11 | 12 | 13 | 14 | 15 | 16 | 17 |
| 18 | 19 | 20 | 21 | 22 | 23 | 24 |
| 25 | 26 | 27 | 28 | 29 | 30 |
Producción científica
VOLVER AL LISTADODetalles del artículo
| Publicación | |
|---|---|
| Título: | PERFORMANCE AND RELIABILITY IN BACK-GATED CVD-GROWN MOS2 DEVICES |
| Título de la revista: | SOLID-STATE ELECTRONICS |
| Tipo de aportación: | ARTICULO |
| Número de volumen: | 186 |
| Páginas de la publicación: | 108173 - |
| Año de la publicación: | 2021 |
| Autores: |
FRANCISCO J GAMIZ PEREZ CARLOS MÁRQUEZ GONZÁLEZ |
[Decargar BibTex]