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Detalles del artículo

Publicación
Título: GATE LEAKAGE TUNNELING IMPACT ON THE INAS/GASB HETEROJUNCTION ELECTRON-HOLE BILAYER TUNNELING FIELD-EFFECT TRANSISTOR
Título de la revista: IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES
Tipo de aportación: ARTICULO
Número de la revista: 10
Número de volumen: 65
Páginas de la publicación: 4679 - 4686
Año de la publicación: 2018
Autores: JOSÉ LUIS PADILLA DE LA TORRE
CRISTINA MEDINA BAILÓN
CARLOS MÁRQUEZ GONZÁLEZ
CARLOS SAMPEDRO MATARÍN
LUCA DONETTI
FRANCISCO J GAMIZ PEREZ
ADRIAN MIHAI IONESCU

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