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| Publicación | |
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| Título: | ELECTRICAL CHARACTERIZATION OF RANDOM TELEGRAPH NOISE IN BACK-BIASED ULTRATHIN SILICON-ON-INSULATOR MOSFETS |
| Tipo de participación en la aportación: | CONGRESO |
| Nombre del congreso: | 2016 JOINT INTERNATIONAL EUROSOI WORKSHOP AND INTERNATIONAL CONFERENCE ON ULTIMATE INTEGRATION ON SILICON (EUROSOI-ULIS) |
| Fecha de celebración del congreso: | 25/01/2016 |
| Lugar de celebración del congreso: | AUSTRIA, AUSTRIA, VIENA |
| Páginas de la publicación: | None - None |
| Año de publicación: | 2016 |
| Autores: |
CARLOS MÁRQUEZ GONZÁLEZ NOEL RODRÍGUEZ SANTIAGO FRANCISCO J GAMIZ PEREZ AKIKO OHATA |
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