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| Publicación | |
|---|---|
| Título: | BACK-GATE BIASING INFLUENCE ON THE ELECTRON MOBILITY AND THE THRESHOLD VOLTAGE OF ULTRA THIN BOX MULTIGATE MOSFET |
| Tipo de participación en la aportación: | CONGRESO |
| Nombre del congreso: | IEEE SILICON NANOELECTRONICS WORKSHOP 2013 |
| Fecha de celebración del congreso: | 09/06/2013 |
| Lugar de celebración del congreso: | KYOTO. JAPÓN |
| Páginas de la publicación: | None - None |
| Año de publicación: | 2013 |
| Autores: |
FRANCISCO JAVIER GARCÍA RUIZ ENRIQUE GONZÁLEZ MARÍN ANDRÉS GODOY MEDINA ISABEL MARIA TIENDA-LUNA CELSO JESÚS MARTÍNEZ BLANQUE FRANCISCO J GAMIZ PEREZ |
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