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Producción científica

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Detalles de la aportación al congreso

Publicación
Título: INFLUENCE OF THE BACK-GATE BIAS ON THE ELECTRON MOBILITY OF TRIGATE MOSFETS
Tipo de participación en la aportación: CONGRESO
Nombre del congreso: INTERNATIONAL CONFERENCE ON SIMULATION OF SEMICONDUCTOR PROCESSES AND DEVICES (SISPAD), 2013
Fecha de celebración del congreso: 03/09/2013
Lugar de celebración del congreso: GLASGOW, REINO UNIDO
Páginas de la publicación: None - None
Año de publicación: 2013
Autores: FRANCISCO JAVIER GARCÍA RUIZ
ENRIQUE GONZÁLEZ MARÍN
ISABEL MARIA TIENDA-LUNA
ANDRÉS GODOY MEDINA
CELSO JESÚS MARTÍNEZ-BLANQUE
FRANCISCO J GAMIZ PEREZ

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