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Publicación | |
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Título: | GATE LEAKAGE TUNNELING IMPACT ON THE INAS/GASB HETEROJUNCTION ELECTRON¿HOLE BILAYER TUNNELING FIELD-EFFECT TRANSISTOR |
Título de la revista: | IEEE JOURNAL OF THE ELECTRON DEVICES SOCIETY |
Tipo de aportación: | ARTICULO |
Número de volumen: | 6 |
Páginas de la publicación: | 884 - 892 |
Año de la publicación: | 2018 |
Autores: |
SANTIAGO NAVARRO-MORAL LUCA DONETTI CARLOS SAMPEDRO MATARÍN SIEGFRIED KARG HEIKE RIEL FRANCISCO J GAMIZ PEREZ |