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Producción científica

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Detalles del artículo

Publicación
Título: GATE LEAKAGE TUNNELING IMPACT ON THE INAS/GASB HETEROJUNCTION ELECTRON¿HOLE BILAYER TUNNELING FIELD-EFFECT TRANSISTOR
Título de la revista: IEEE JOURNAL OF THE ELECTRON DEVICES SOCIETY
Tipo de aportación: ARTICULO
Número de volumen: 6
Páginas de la publicación: 884 - 892
Año de la publicación: 2018
Autores: SANTIAGO NAVARRO-MORAL
LUCA DONETTI
CARLOS SAMPEDRO MATARÍN
SIEGFRIED KARG
HEIKE RIEL
FRANCISCO J GAMIZ PEREZ

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